苏州讯芯微电子设备有限公司主营 X-RAY  AOI  SPI 贴片机 周边设备 回流焊的出售、租赁，以及全新设备的售卖。有的营销团队提供周到的服务，我们将根据贵司产品以实际生产需要合理配置所需机型，我司提供技术支持、生产培训及相关技术人员。只要是客户你想要的，我们都能尽努力去办到。
SMT 领域检测- BGA锡球空洞，开路，漏球，桥连- 检测主要焊点半导体行业- 检测引线键合 , 环氧树脂空洞- LED电子元件- 连接器, 摄像头模组检测蓄电池检测铝压铸件和塑胶元件
苏州讯芯微电子设备有限公司是2004年成立的中国一般纳税人企业，是SMT 无铅电子设备供应商之一，自成立以来秉承安全诚信省心之经营宗旨，不断满足客户个性化需求，致力于更省心、更节能、更环保之理念，不断发展创新。
多年以来服务客户己逾2000个客户，包括LEGRAND,IMI,PULSE,九州，松下，卡西欧，创维，TCL，富士康，帛汉，台昶，伟创力等，感谢客户的个性化需求为我们提供不断改善和进步的空间。我们的产品不是全球的产品，但是我们ROHS一站式服务和个性化解决方案及多年SMT经验能为中小型发展中企业创造价值，期待与客户共同成长。

DAGE X-ray产品设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。
产品参数：规格:XD7500VR尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970重量:1900 KG***聚集光点:0.95micronＸ光发射管:开放管X 射线管电压范围:30-160 KV***检测面积:458 x 407***板尺寸: 508 x 444***样本重量:5 KG电源:单相 200-230V/16A斜角视图:0-70°(360°***检测)系统（几何）放大倍率:1200x安全标准:1uSv/Hr(符合标准）
DAGE X-ray 检查仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的***检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度需求。
价格：价格可面谈（可租可售）
租期不同租价不同

铸造行业生存困局已是不争事实，由于环保政策的收紧，铸造企业用于环保设施改造、厂房设施优化升级的资金投入不断上升，加之原材料价格上涨，这使得一些企业忙于升级通过之后却难以继续生产，导致一些企业面临关停。随着不合格的铸造企业关停整改，合格的铸造厂面临着劳动力价格上升，原辅材料价格上涨，有单不敢接的困境。
铸造厂招工困难，现在人工成本太高，都很难招到人！所有人都意识到铸造行业即将面临着大洗牌，铸造企业转型升级已成定局。
随着人力成本剧增，企业必须想方设法提率；随着客户对产品品质进一步提升，企业必须提高升产品质量，减少报废，杜绝退货事件的发生。但由于铸造工艺过程复杂，影响铸件质量的因素很多，如何提高产品合格率是每个企业孜孜不倦的追求。为保证铸件质量及节省成本，在生产流程的早期阶段及时检测出产品缺陷是很必要的。X射线无损检测由于检测效率高，结果直观可靠，成为铸件缺陷检测的方法。
日联科技研发生产的回转式X射线检测设备覆盖广泛的零部件检测。边检测边上下料的检测方式大幅度节省检测时间，满足大多数企业的生产节拍。可采用全自动上下料机械手，减少人力成本。与厂内生产线对接，实现生产、检测、判定一体化作业，大大提高了生产效率。其高分辨率，高清晰度图像质量，配备缺陷自动识别，自动判断功能，整套系统可实现无人化操作。
该设备满足企业可随意在离线式检测和在线式检测之间切换，模块化的设计和安装便于设备移动安装。一台设备，多种用法，满足企业不同发展阶段的需求。离线设备的价格，在线设备的功能，超高的性价比使该设备受到高度的关注。

锡炉
一般情况下，锡炉是指电子接焊接中使用的一种焊接工具。对于分立元件线路板焊接一致性好，操作方便、快捷、工作效率高，是您生产加工的好帮手。
X-ray检测
X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出，其具有非常短的波长但高电磁线。而对于样品无法以外观方式检测的位置，利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
检测项目：
1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。
2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷，如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。
3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。
4.各式连接线路中可能产生的开路(open)，短路(short)或不正常连接的缺陷检验。
5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验。
6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验。
7.芯片尺寸量测(dimensional measurement)，打线线弧量测，组件吃锡面积(Solder area)比例量测。
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